«Alvar Aalto» de Ola Kolehmainen

El fotógrafo Ola Kolehmainen (Helsinki, 1964) presenta su segunda exposición individual en la galería Senda bajo el título «Alvar Aalto» en alusión al célebre arquitecto finlandés. En ella se podrán ver fotografías basadas tanto en la arquitectura creada por Alvar Aalto, (como la Villa Mairea y el Sanatorio Paimio) como también obras que remiten a Aalto conceptualmente.

La arquitectura es protagonista en las obras de Kolehmainen, pero en contraste con la fotografía arquitectónica, no le interesa que se reconozcan los edificios. A través de una selección de detalles crea autonomías propias; de esos motivos concretos crea composiciones abstractas de imágenes.

El artista se deja fascinar por el componente estructural de los edificios, atendiendo a su fracción y a su regularidad; la arquitectura abandona de este modo su tridimensionalidad y se transforma en un objeto abstracto. Del mismo modo, en su último trabajo las superficies reflectantes de algunos de los edificios dominan la obra, tomando un sentido metafórico: la inmaterialidad del reflejo le lleva a cuestionar la idea de la presencia y de la ausencia.

Así pues, en las obras «Moment of Contemplation» (2008), «Autumn Leaves» (2008), «Trace of Human» (2008) y «Presence» (2009), la arquitectura apenas está presente en el reflejo del espacio en que se erige. El artista utiliza no solo la arquitectura sino también la naturaleza como materia prima aplicada a una composición en que la luz y la abstracción pasan a tener un papel predominante.

Las fotografías de Ola Kolehmainen son de gran formato y de producción exuberante, por el así llamado proceso Diasec, que intensifica el profundo efecto óptico manteniendo la luminosidad de la fotografía gracias al cristal acrílico. Obras que son capaces de trasladar la fotografía más allá de los parámetros visibles, allí donde el ojo no puede ver y sólo es posible imaginar.

Fecha: Del 15 de junio al 30 de julio de 2010
Lugar: Galeria Senda, C/ Consell de Cent 337, 08007 Barcelona (mapa)
Precio: Entrada gratuita